ASIG hat über 17 Jahre Erfahrung mit der Schwachstellenanalyse elektronischer Baugruppen und Komponenten.

Seit 1993 beschäftigen wir uns mit der Lebensdaueranalyse von Produkten der IT, Unterhaltungselektronik und verschiedenster Industrieanwendungen.

Wir haben ein einzigartiges Analysetool entwickelt, mit dem die Lebensdauer u. Zuverlässigkeit von elektrischen und elektronischen Produkten praxisgerecht gemessen und berechnet werden kann.

Grundsätzlich gibt es mehrere Möglichkeiten, die Zuverlässigkeit oder Lebensdauer theoretisch oder praktisch zu simulieren und zu berechnen.

Verwendet werden in der Industrie theoretische Modelle, die anhand der FIT Werte von Komponenten u. verschiedener Parameter eine theoretische Berechnung der MTBF erlauben. Diese Modelle haben jedoch erhebliche Schwächen und sind in der Praxis meist weit entfernt von der Realität, wofür es gute Gründe gibt, die wir ihnen gerne erklären.

Zusätzlich gibt es verschiedene Möglichkeiten, durch erhöhten mechanischen, klimatischen oder chemischen Stress eine beschleunigte Alterung praktisch zu simulieren und dadurch eine "demonstrated MTBF" zu simulieren (z.B. HALT Tests usw.). Allerdings hat die Beschleunigung Grenzen und bei Produkten mit sehr hoher Lebensdauer dauert auch diese Simulation Jahre und muß zudem mit einer statistisch erheblichen Menge an Produkten gemacht werden, um echte brauchbare Aussagen zu bekommen.

Unsere Kunden brauchen in kurzer Zeit Aussagen über die Lebensdauer ihrer Produkte und müssen Schwachstellen sehr schnell finden, ohne viele Monate warten zu können. Deswegen haben wir schon vor 17 Jahren Tools entwickelt, die die gängigen Modelle teils kombinieren und in kurzer Zeit brauchbare Ergebnisse bringen.